半导体芯片的内部缺陷定位是半导体芯片工艺改进和失效分析的重要技术基础。随着半导体芯片复杂程度的提升,对半导体芯片定位技术也提出了更高的要求。目前半导体芯片定位技...
2022-01-18
對对所有半导体制造商及晶片设计公司而言,分析元件失效的真正原因是非常必要的。失效分析的流程主要有下面几个类别:
2017-09-11
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